QUC-200數(shù)顯式磁性測(cè)厚儀

QUC-200 數(shù)顯式磁性測(cè)厚儀簡(jiǎn)介：
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)： GB/T1764-89 、GB/T13452.2-92 、ISO2808-74 ，本儀器適于測(cè)定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測(cè)定。

QUC-200 數(shù)顯式磁性測(cè)厚儀主要技術(shù)參數(shù)：
1 測(cè)量范圍： O-200μm
2 測(cè)量精度：±（ 0.7μm+3%H ）*H為標(biāo)準(zhǔn)厚度